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字形結(jié)構(gòu)電流互感器介質(zhì)損耗因數(shù)測量

來源：m.1177567.com    更新時(shí)間：2018-03-22

目前，電力系統(tǒng)中運(yùn)行著大量的35～110kV 8字形結(jié)構(gòu)電流互感器。這種互感器運(yùn)行中存在一個(gè)主要的問題是：由于頂部密封不良而進(jìn)水受潮。因此正確測量電流互感器一次對(duì)二次及外殼的介質(zhì)損耗因數(shù)對(duì)監(jiān)視絕緣是否受潮或劣化非常重要。
    具體測量方法既可按os，型電橋正接線測量一次對(duì)二次繞組的tgδ，也可按oS．型電橋反接線測量，由于運(yùn)行中互感器外殼已妥善接地，因此一般使用osi型電橋的反接線進(jìn)行測量（即一次短接電橋C。線，二次短接外殼或地）。曾用此法測得一臺(tái)llOkV電流互感器，其一次對(duì)二次及外殼的tgδ為2.1%（20℃時(shí)），符合試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)要求。但在進(jìn)行真空干燥處理時(shí)，明顯地發(fā)現(xiàn)內(nèi)部存有水珠。這就表明，按此方法測量介質(zhì)損耗因數(shù)對(duì)發(fā)現(xiàn)互感器進(jìn)水受潮尚不可靠。

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